探針卡在半導體製造過程中扮演關鍵角色，主要功能是在晶圓切割前對晶圓上的每個晶粒進行電性測試，以此篩選出有缺陷的晶粒。這種預先篩選機制能有效避免將不良晶片投入後續成本高昂的切割與先進封裝製程，從而達到節省成本的目的。
探針卡是一種精密的介面，負責連接半導體晶圓與自動測試設備（ATE）。透過探針卡上的微小探針與晶粒上的接點進行接觸，ATE便能針對每個晶粒執行電性測試，檢測其功能是否正常運作。如果晶粒未能通過測試，便會被判定為瑕疵品，並在後續製程中遭到剔除。
由於高階AI GPU的製造成本極為高昂，如果在封裝完成後才發現瑕疵，將導致巨大的經濟損失。探針卡在晶圓測試階段篩選出瑕疵晶粒，能有效避免此類損失。此外，探針卡還能提高整體生產效率，確保只有良品才能進入後續製程，進而提升產品的可靠性與品質。
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